一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置
文献类型：专利
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| 作者 | 唐紫超; 史磊; 吴小虎; 王兴龙; 任文峰; 李刚; 张世宇 |
| 发表日期 | 2015-11-01 |
| 专利号 | CN201310123964.0 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 中文摘要 | 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置，该装置包括进样口，电离室，离子源和原位热解装置，质量分析器，接收器，数据系统，供电系统及真空系统；进样口直接引入离子源和原位热解装置中，离子源和原位热解装置在电离室中，电离室紧靠质量分析器；接收器在质量分析器中，通过数据线与数据系统相连，在电离室和质量分析器中加入真空系统。该装置可以探测样品升温脱附过程中产生的自由基与反应中间体，质谱分辨率可达到5000，具有分辨率高、检测速度快、小型便携的优点。适用于过程气体的分析检测。 |
| 是否PCT专利 | 否 |
| 学科主题 | 物理化学 |
| 公开日期 | 2014-10-15 |
| 授权日期 | 2015-11-01 |
| 申请日期 | 2013-04-10 |
| 专利申请号 | CN201310123964.0 |
| 源URL | [http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/145366]  |
| 专题 | 大连化学物理研究所_中国科学院大连化学物理研究所 |
| 作者单位 | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 唐紫超,史磊,吴小虎,等. 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置, 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置, 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置, 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置. CN201310123964.0. 2015-11-01. |
入库方式： OAI收割
来源：大连化学物理研究所
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