Beam Profile Measurements with a Slit-Faraday Cup and a Wire Scanner for a Newly Developed 18 GHz Superconducting ECR Ion Source and its LEBT
文献类型：会议论文
| 作者 | H.J.You; W.I.Choo; S.O.Jang |
| 出版日期 | 2015 |
| 会议名称 | Proceedings of the 4th International Beam Instrumentation Conference |
| 会议日期 | 2015 |
| 会议地点 | Australia |
| 会议录 | Proceedings of the 4th International Beam Instrumentation Conference
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| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/229541]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC |
| 作者单位 | NFRI, Daejon, Republic of Korea |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | H.J.You,W.I.Choo,S.O.Jang. Beam Profile Measurements with a Slit-Faraday Cup and a Wire Scanner for a Newly Developed 18 GHz Superconducting ECR Ion Source and its LEBT[C]. 见:Proceedings of the 4th International Beam Instrumentation Conference. Australia. 2015. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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