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Development of a Scintillation Screen Monitor for Transverse Ion Beam Profile Measurment at the Khima Project

文献类型:会议论文

作者S.Y.Noh; S.D.Chang; J.G.Hwang
出版日期2015
会议名称Proceedings of the 4th International Beam Instrumentation Conference
会议日期2015
会议地点Australia
会议录Proceedings of the 4th International Beam Instrumentation Conference
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/229613]  
专题高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC
作者单位KIRAMS/KHIMA, Seoul, Republic of Korea
推荐引用方式
GB/T 7714
S.Y.Noh,S.D.Chang,J.G.Hwang. Development of a Scintillation Screen Monitor for Transverse Ion Beam Profile Measurment at the Khima Project[C]. 见:Proceedings of the 4th International Beam Instrumentation Conference. Australia. 2015.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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