A NEW BEAM PROFILE DIAGNOSTIC SYSTEM BASED ON THE INDUSTRIAL ETHERNET
文献类型：会议论文
| 作者 | Y.C.Xu; Y.Z.Chen; K.C.Chu; L.F.Han; Y.B.Leng; G.B.Zhao |
| 出版日期 | 2010 |
| 会议名称 | Proceedings of the first International Particle Accelerator Conference （IPAC 2010） |
| 会议日期 | 2010 |
| 会议地点 | Japan |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/230153]  |
| 专题 | 学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IPAC |
| 作者单位 | SINAP, Shanghai |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Y.C.Xu,Y.Z.Chen,K.C.Chu,et al. A NEW BEAM PROFILE DIAGNOSTIC SYSTEM BASED ON THE INDUSTRIAL ETHERNET[C]. 见:Proceedings of the first International Particle Accelerator Conference （IPAC 2010）. Japan. 2010. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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