MEASUREMENTS OF SECONDARY ELECTRON YIELD OF METAL SURFACES AND FILMS WITH EXPOSURE TO A REALISTIC ACCELERATOR ENVIRONMENT
文献类型：会议论文
| 作者 | W.Hartung; J.V.Conway; C.A.Dennett; S.Greenwald; J.-S.Kim,Y.Li; T.P.Moore; V.Omanovic |
| 出版日期 | 2013 |
| 会议名称 | Proceedings of the 4th International Particle Accelerator Conference （IPAC 2013） |
| 会议日期 | 2013 |
| 会议地点 | Shanghai, China |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/234677]  |
| 专题 | 学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IPAC |
| 作者单位 | CLASSE, Ithaca, New York, USA |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | W.Hartung,J.V.Conway,C.A.Dennett,et al. MEASUREMENTS OF SECONDARY ELECTRON YIELD OF METAL SURFACES AND FILMS WITH EXPOSURE TO A REALISTIC ACCELERATOR ENVIRONMENT[C]. 见:Proceedings of the 4th International Particle Accelerator Conference （IPAC 2013）. Shanghai, China. 2013. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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