USING THE POWER SPECTRAL DENSITY METHOD TO CHARACTERIZE AND EVALUATE THE X-RAY MIRRORS SURFACES
文献类型：会议论文
| 作者 | W.Q.Hua; F.G.Bian; Y.M.He; W.H.Lin; L.Song; J.Wang; N.Zhao |
| 出版日期 | 2013 |
| 会议名称 | Proceedings of the 4th International Particle Accelerator Conference （IPAC 2013） |
| 会议日期 | 2013 |
| 会议地点 | Shanghai, China |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/235387]  |
| 专题 | 学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IPAC |
| 作者单位 | SINAP, Shanghai, People's Republic of China |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | W.Q.Hua,F.G.Bian,Y.M.He,et al. USING THE POWER SPECTRAL DENSITY METHOD TO CHARACTERIZE AND EVALUATE THE X-RAY MIRRORS SURFACES[C]. 见:Proceedings of the 4th International Particle Accelerator Conference （IPAC 2013）. Shanghai, China. 2013. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。