IN SITU SECONDARY ELECTRON YIELD MEASUREMENT SYSTEM AT CesrTA
文献类型：会议论文
| 作者 | Y.Li; J.V.Conway; S.Greenwald; J.-S.Kim; V.Medjidzade; T.P.Moore; M.A.Palmer; C.R.Strohman |
| 出版日期 | 2011 |
| 会议名称 | Proceedings of 2011 Particle Accelerator Conference, New York, NY, USA |
| 会议日期 | 2011 |
| 会议地点 | New York |
| 页码 | 1253--1255 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/243333]  |
| 专题 | 学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_NA-PAC |
| 作者单位 | CLASSE, Ithaca, New York, USA |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Y.Li,J.V.Conway,S.Greenwald,et al. IN SITU SECONDARY ELECTRON YIELD MEASUREMENT SYSTEM AT CesrTA[C]. 见:Proceedings of 2011 Particle Accelerator Conference, New York, NY, USA. New York. 2011. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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