Study on Niobium Scratch and Tantalum or Carbonaceous Contamination at Niobium Surface with Field Emission Scanner
文献类型：会议论文
| 作者 | S.Kato; H.Hayano; T.Kubo; T.Noguchi; T.Saeki; M.Sawabe |
| 出版日期 | 2013 |
| 会议名称 | International Conference on RF Superconductivity 2013 16th |
| 会议日期 | 2013 |
| 会议地点 | Paris |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/243906]  |
| 专题 | 学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_SRF |
| 作者单位 | KEK, Ibaraki, Japan |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | S.Kato,H.Hayano,T.Kubo,et al. Study on Niobium Scratch and Tantalum or Carbonaceous Contamination at Niobium Surface with Field Emission Scanner[C]. 见:International Conference on RF Superconductivity 2013 16th. Paris. 2013. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。