基于扫描探针显微术研究Pb(Zr;Ti)O_3铁电薄膜的电学性质
文献类型：期刊论文
| 作者 | 魏艳萍 ; 卢焕明 ; 魏安祥 ; 李勇 |
| 刊名 | 理化检验(物理分册)
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| 出版日期 | 2015 |
| 卷号 | 51期号:8页码:560-563+577 |
| 关键词 | 扫描探针显微镜 Pb(Zr Ti)O3铁电薄膜 铁电畴 导电性 |
| ISSN号 | 1001-4012 |
| 中文摘要 | 首先利用脉冲激光沉积技术在(001)取向的SrTiO3基片上外延生长了SrRuO3底电极和PbZr0.20Ti0.80O3(PZT)薄膜,然后利用扫描探针显微镜的压电响应模式(PFM)和导电测试模式(C-AFM)表征了PbZr0.20Ti0.80O3/SrRuO3/SrTiO3异质结薄膜纳米尺度的电学性质。以镀铂探针为上电极,利用压电响应模式获得了复合薄膜纳米尺度的压电位移-电压蝶形曲线和压电相位-电压滞后曲线,表明样品具有良好的铁电性。薄膜纳米尺度下的I-V测试结果表明经+10V电压极化后的样品,其I-V曲线在矫顽场附近出现峰值,与宏观I-V测试结果类似。导电原子力和压电力测试结果证明C-AFM可以检测到PZT薄膜样品的瞬时极化反转电流并进行成像。 |
| 公开日期 | 2016-09-18 |
| 源URL | [http://ir.nimte.ac.cn/handle/174433/12207]  |
| 专题 | 宁波材料技术与工程研究所_2015专题 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 魏艳萍,卢焕明,魏安祥,等. 基于扫描探针显微术研究Pb(Zr;Ti)O_3铁电薄膜的电学性质[J]. 理化检验(物理分册),2015,51(8):560-563+577. |
| APA | 魏艳萍,卢焕明,魏安祥,&李勇.(2015).基于扫描探针显微术研究Pb(Zr;Ti)O_3铁电薄膜的电学性质.理化检验(物理分册),51(8),560-563+577. |
| MLA | 魏艳萍,et al."基于扫描探针显微术研究Pb(Zr;Ti)O_3铁电薄膜的电学性质".理化检验(物理分册) 51.8(2015):560-563+577. |
入库方式： OAI收割
来源：宁波材料技术与工程研究所
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