Extracting Information Content within Noisy, Sampled Profile Data from Charged Particle Beams: Part II
文献类型：会议论文
| 作者 | C.K.Allen; W.Blokland; S.M.Cousineau; J.Galambos |
| 出版日期 | 2008 |
| 会议名称 | Proceedings of the 24th Linear Accelerator Conference |
| 会议日期 | 2008 |
| 会议地点 | Canada |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/252619]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_LINAC |
| 作者单位 | ORNL, Oak Ridge, Tennessee |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | C.K.Allen,W.Blokland,S.M.Cousineau,et al. Extracting Information Content within Noisy, Sampled Profile Data from Charged Particle Beams: Part II[C]. 见:Proceedings of the 24th Linear Accelerator Conference. Canada. 2008. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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