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高重复频率DPL激光对光学薄膜元件损伤实验研究

文献类型:期刊论文

作者代福; 熊胜明
刊名红外与激光工程
出版日期2014
卷号43期号:7页码:2074-2080
关键词光学薄膜 重频DPL激光 驻波场修正 损伤机理
通讯作者代福
中文摘要光学薄膜的高重频激光损伤特性一直是激光薄膜研究者的重点。为了分析光学薄膜在高重频激光辐照下的损伤特性,探究其损伤机理,文中从实验出发,研究了重复频率10kHz DPL激光对光学薄膜元件的损伤特性。结果表明,修正膜层内的驻波场分布,降低膜层内高折射材料中的驻波场峰值可以提高高重频激光损伤阈值;从激光损伤形貌与辐照激光功率的关系上看,在高重频激光辐照下光学薄膜元件的损伤实质上是热效应和场效应共同作用下产生的"微损伤"累积放大所造成的。当薄膜吸收率较小时,损伤主要表现为场效应所致的"微损伤"累积放大,当薄膜吸收率较大时,损伤主要表现为热效应所致的"微损伤"累积放大。
收录类别Ei
语种中文
源URL[http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/6636]  
专题光电技术研究所_薄膜光学技术研究室(十一室)
作者单位1.五邑大学应用物理与材料学院
2.中国科学院光电技术研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
代福,熊胜明. 高重复频率DPL激光对光学薄膜元件损伤实验研究[J]. 红外与激光工程,2014,43(7):2074-2080.
APA 代福,&熊胜明.(2014).高重复频率DPL激光对光学薄膜元件损伤实验研究.红外与激光工程,43(7),2074-2080.
MLA 代福,et al."高重复频率DPL激光对光学薄膜元件损伤实验研究".红外与激光工程 43.7(2014):2074-2080.

入库方式: OAI收割

来源:光电技术研究所

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