一种光电码盘缺陷检测方法的FPGA实现
文献类型：期刊论文
| 作者 | 周锋; 岳永坚; 刘恩海; 余光清 |
| 刊名 | 半导体光电
 |
| 出版日期 | 2014 |
| 卷号 | 35期号:4页码:701-704 |
| 关键词 | 码盘缺陷 检测 亮点或暗斑 相位差 FPGA仿真 |
| 通讯作者 | 周锋 |
| 中文摘要 | 光电码盘在实际研究和使用过程中遇到的质量问题,如码道有亮点或暗斑、码道间相位差误差过大等缺陷,会严重影响光电编码器的测量精度。提出一种新式码盘缺陷检测方法,通过FPGA仿真分析实现检测码道上亮点或暗斑位置以及各码道间的相位差,并确定相位差误差大小。通过实验仿真验证了所提出方法的有效性和可行性。 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/5131]  |
| 专题 | 光电技术研究所_光电传感技术研究室（六室） |
| 作者单位 | 1.中国科学院光电技术研究所 2.中国科学院大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 周锋,岳永坚,刘恩海,等. 一种光电码盘缺陷检测方法的FPGA实现[J]. 半导体光电,2014,35(4):701-704. |
| APA | 周锋,岳永坚,刘恩海,&余光清.(2014).一种光电码盘缺陷检测方法的FPGA实现.半导体光电,35(4),701-704. |
| MLA | 周锋,et al."一种光电码盘缺陷检测方法的FPGA实现".半导体光电 35.4(2014):701-704. |
入库方式： OAI收割
来源：光电技术研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。