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空间辐射对芯片温度场分布影响的研究

文献类型:期刊论文

作者刘玉明; 吴凡
刊名半导体光电
出版日期2015
卷号36期号:1页码:92-96
关键词ANSYS 瞬态 有源像元传感器 时间温度曲线
通讯作者刘玉明
中文摘要简述了ANSYS有限元瞬态热分析方法的基本原理和步骤,推导了瞬态传导辐射微分方程,利用此有限元方法对基于有源像元传感器的探测芯片在轨运行期间温度场进行了计算,得出了详细的温度变化和分布云图情况,研究了不同辐射率的空间辐射对芯片温度分布的影响,比较了芯片在不同辐射率的空间辐射和无空间辐射时的温度分布情况,并绘制了最值温度节点的时间温度曲线,研究结果为相关芯片热设计提供了重要的理论依据。
语种中文
源URL[http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/5143]  
专题光电技术研究所_光电传感技术研究室(六室)
作者单位1.中国科学院光电技术研究所
2.中国科学院大学
推荐引用方式
GB/T 7714
刘玉明,吴凡. 空间辐射对芯片温度场分布影响的研究[J]. 半导体光电,2015,36(1):92-96.
APA 刘玉明,&吴凡.(2015).空间辐射对芯片温度场分布影响的研究.半导体光电,36(1),92-96.
MLA 刘玉明,et al."空间辐射对芯片温度场分布影响的研究".半导体光电 36.1(2015):92-96.

入库方式: OAI收割

来源:光电技术研究所

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