光电跟踪测量系统的动态成像分辨率分析及优化设计(英文)
文献类型：期刊论文
| 作者 | 易春兰; 刘兴法 |
| 刊名 | 光电工程
 |
| 出版日期 | 2012 |
| 卷号 | 39期号:10页码:40-45 |
| 关键词 | 光电测量系统 跟踪精度 调协传递函数 动态分辨率 开环增益 目标等效频率 |
| 通讯作者 | 易春兰 |
| 中文摘要 | 光电跟踪测量系统的测量精度与成像质量受成像系统动态分辨率的影响。成像系统动态分辨率受光电跟踪测量系统跟踪精度的影响。分析与试验表明,光电跟踪测量系统的动态成像分辨率主要取决于静态分辨率和跟踪精度;工作过程中的光电跟踪测量系统的动态成像分辨率比光电跟踪测量系统的静态成像分辨率低;与传感器的积分时间相比,高频目标与低频目标对动态成像分辨率的影响模型不同;在传感器积分时间、目标的运动状态及对动态分辨率要求确定的条件下,可对静态成像分辨与控制系统进行优化设计。 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/4116]  |
| 专题 | 光电技术研究所_光电工程总体研究室（一室） |
| 作者单位 | 1.成都飞机工业集团电子科技有限公司 2.中国科学院光电技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 易春兰,刘兴法. 光电跟踪测量系统的动态成像分辨率分析及优化设计(英文)[J]. 光电工程,2012,39(10):40-45. |
| APA | 易春兰,&刘兴法.(2012).光电跟踪测量系统的动态成像分辨率分析及优化设计(英文).光电工程,39(10),40-45. |
| MLA | 易春兰,et al."光电跟踪测量系统的动态成像分辨率分析及优化设计(英文)".光电工程 39.10(2012):40-45. |
入库方式： OAI收割
来源：光电技术研究所
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