光电经纬仪CCD曝光中心测量系统的设计
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李满良; 吴钦章 |
| 刊名 | 光学精密工程
 |
| 出版日期 | 2013 |
| 卷号 | 21期号:5页码:1304-1311 |
| 关键词 | 光电经纬仪 CCD曝光中心 IRIG-B码终端 数字信号处理 现场可编程门阵列 边缘提取 |
| 通讯作者 | 李满良 |
| 中文摘要 | 根据高精度靶场测角要求,设计了一套以IRIG-B码终端为时间基准,基于数字信号处理器(DSP)和现场可编程门阵列(FPGA)的CCD曝光中心测量系统。首先给出了CCD曝光中心的测量原理及硬件组成,利用共源的两台IRIG-B码终端控制发光二极管和CCD探测器,通过调整B码终端输出信号时延控制发光二极管,得到了1Hz脉冲前后沿和曝光脉冲前后沿对齐的2个关键时刻。针对人工图像判读精度低的问题,提出了利用图像重心的提取算法和改进的Krisch边缘算法,自动计算得到CCD曝光中心,其精度优于17μs。在外场对多套光电经纬仪CCD曝光中心进行了测量,并将测量结果应用到外场校飞数据处理中,结果表明,在飞机过... |
| 收录类别 | Ei |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/4415]  |
| 专题 | 光电技术研究所_光电探测技术研究室（三室） |
| 作者单位 | 1.中国科学院光电技术研究所 2.中国科学院大学 3.中国人民解放军63610部队 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李满良,吴钦章. 光电经纬仪CCD曝光中心测量系统的设计[J]. 光学精密工程,2013,21(5):1304-1311. |
| APA | 李满良,&吴钦章.(2013).光电经纬仪CCD曝光中心测量系统的设计.光学精密工程,21(5),1304-1311. |
| MLA | 李满良,et al."光电经纬仪CCD曝光中心测量系统的设计".光学精密工程 21.5(2013):1304-1311. |
入库方式： OAI收割
来源：光电技术研究所
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