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光学元件面形误差的光滑延展算法

文献类型:期刊论文

作者李云; 段沽坪; 邢廷文
刊名红外与激光工程
出版日期2013
卷号42期号:2页码:408-412
关键词面形误差延展 驻留时间 离子束抛光 光学加工
通讯作者李云
中文摘要在离子束抛光工艺中,为了提高驻留时间求解算法在工件边缘处的求解精度,需要对原始面形误差数据进行有界光滑延展。推导并提出了一种基于高斯曲线的曲面延展算法,该算法利用了高斯函数的有界性、光滑性和参数连续性。将该曲面延展算法应用于带有高频噪声的面形误差工件的驻留时间求解过程中,驻留时间算法在光学元件边缘处的残余误差得到了抑制,使得驻留时间算法在整个通光口径内的收敛率达到了97%(RMS)。这表明基于高斯曲线的曲面光滑延展算法能实现光学元件面形误差的光滑延展,并具有良好的抗噪声干扰能力,改善了驻留时间算法的求解精度。
收录类别Ei
语种中文
源URL[http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/4246]  
专题光电技术研究所_应用光学研究室(二室)
作者单位1.中国科学院光电技术研究所
2.中国科学院大学
推荐引用方式
GB/T 7714
李云,段沽坪,邢廷文. 光学元件面形误差的光滑延展算法[J]. 红外与激光工程,2013,42(2):408-412.
APA 李云,段沽坪,&邢廷文.(2013).光学元件面形误差的光滑延展算法.红外与激光工程,42(2),408-412.
MLA 李云,et al."光学元件面形误差的光滑延展算法".红外与激光工程 42.2(2013):408-412.

入库方式: OAI收割

来源:光电技术研究所

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