Ultrahigh resolution characterizing nanoscale Seebeck coefficient via the heated, conductive AFM probe
文献类型：期刊论文
| 作者 | Xu KQ(徐琨淇); Ceng HR(曾华荣); Yu HZ(于会珠); Zhao KY(赵坤宇); Li GR(李国荣); Song JQ(宋君强); Shi X(史迅); Chen LD(陈立东) |
| 刊名 | Applied Physics A
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| 出版日期 | 2015 |
| 卷号 | 118期号:1页码:57 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://ir.sic.ac.cn/handle/331005/8284]  |
| 专题 | 上海硅酸盐研究所_无机功能材料与器件重点实验室_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Xu KQ,Ceng HR,Yu HZ,et al. Ultrahigh resolution characterizing nanoscale Seebeck coefficient via the heated, conductive AFM probe[J]. Applied Physics A,2015,118(1):57. |
| APA | Xu KQ.,Ceng HR.,Yu HZ.,Zhao KY.,Li GR.,...&Chen LD.(2015).Ultrahigh resolution characterizing nanoscale Seebeck coefficient via the heated, conductive AFM probe.Applied Physics A,118(1),57. |
| MLA | Xu KQ,et al."Ultrahigh resolution characterizing nanoscale Seebeck coefficient via the heated, conductive AFM probe".Applied Physics A 118.1(2015):57. |
入库方式： OAI收割
来源：上海硅酸盐研究所
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