SRAM型FPGA抗单粒子翻转技术研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 郑晓云; 陶淑苹; 冯汝鹏; 王绍举 |
| 刊名 | 电子测量技术
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| 出版日期 | 2015-01-15 |
| 期号 | 01页码:59-63 |
| 关键词 | SRAM型FPGA 单粒子翻转 刷新 空间辐照 |
| 中文摘要 | 随着CMOS电路的高速发展以及SRAM型FPGA在航天领域的不断应用,空间辐照的影响,特别是单粒子效应对FPGA的影响尤为显著。为了提高FPGA在空间环境的可靠性,介绍了几种抗单粒子翻转方法,并对其进行了比较分析,实现了SRAM型FPGA抗单粒子翻转的系统设计,采用定时刷新的方法抑制翻转位累加,同时通过故障注入的方式对系统进行了实验测试,结果表明系统设计方法有效可行,既不中断FPGA正常工作,又可以及时纠正翻转位,为SRAM型FPGA在航天领域中应用提供可靠性保障。 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/53392]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郑晓云,陶淑苹,冯汝鹏,等. SRAM型FPGA抗单粒子翻转技术研究[J]. 电子测量技术,2015(01):59-63. |
| APA | 郑晓云,陶淑苹,冯汝鹏,&王绍举.(2015).SRAM型FPGA抗单粒子翻转技术研究.电子测量技术(01),59-63. |
| MLA | 郑晓云,et al."SRAM型FPGA抗单粒子翻转技术研究".电子测量技术 .01(2015):59-63. |
入库方式： OAI收割
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