电荷耦合器件固定亮点影响研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 杨小虎
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| 刊名 | 电脑知识与技术
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| 出版日期 | 2015 |
| 期号 | 31页码:178-179 |
| 关键词 | 电荷耦合器件 固定亮点 温度 |
| 中文摘要 | 针对电荷耦合器件(Charge Coupled Devices,CCD)工作过程中出现的固定亮点,通过对同一探测器在不同条件下测试以及不同型号探测器之间的比对分析,确认了积分时间、温度以及亮点阈值是固定亮点产生的最主要原因。进一步的研究表明,固定亮点对探测器影响有限,且可以通过数据处理予以消除。 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/53514]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨小虎. 电荷耦合器件固定亮点影响研究[J]. 电脑知识与技术,2015(31):178-179. |
| APA | 杨小虎.(2015).电荷耦合器件固定亮点影响研究.电脑知识与技术(31),178-179. |
| MLA | 杨小虎."电荷耦合器件固定亮点影响研究".电脑知识与技术 .31(2015):178-179. |
入库方式： OAI收割
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