面阵电荷耦合器件错位成像的建模与仿真
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李亚鹏; 何斌 ; 王文华
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| 刊名 | 红外与激光工程
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| 出版日期 | 2015-09-25 |
| 期号 | 09页码:2767-2773 |
| 关键词 | 面阵电荷耦合器件错位成像 仿真模型 填充因子 灰度平均梯度 拉普拉斯能量 |
| 中文摘要 | 为了定量研究面阵电荷耦合器件(CCD)错位成像技术图像质量的提高以及CCD像元填充因子对图像质量的影响,建立了仿真不同像元填充因子的面阵CCD错位成像的数学模型。以Matlab为平台,不考虑噪声的干扰,对ISO12233标准分辨率测试卡子图像进行了仿真,结果表明,CCD像元填充因子为100%时,与普通成像模式相比,对角错位、四点错位成像模式图像的灰度平均梯度分别提高了2.9970、3.4136,拉普拉斯能量分别提高了0.5676、0.7478,且CCD像元填充因子为其他值时,相较于普通成像模式,对角错位、四点错位成像模式图像的GMG和EOL均得到提高;采用四点错位成像模式时,与填充因子为100%的面阵CCD相比,填充因子为69%、44%、25%的面阵CCD四点错位模式图像的灰度平均梯度分别提高了1.433 0、3.337 3、5.153 2,拉普拉斯能量分别提高了0.638 0、1.704 4、3.196 8,且采用其他成像模式时,填充因子为100%、69%、44%、25%的图像的GMG和EOL均不断提高。研究表明,面阵CCD错位成像技术能够提高图像质量,且四点错位成像模式图像质量优于对角错位成像模式;在满足信噪比指标要求的前提下,对于面阵CCD同一成像模式,像元填充因子越小,图像质量越高。 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/54016]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李亚鹏,何斌,王文华. 面阵电荷耦合器件错位成像的建模与仿真[J]. 红外与激光工程,2015(09):2767-2773. |
| APA | 李亚鹏,何斌,&王文华.(2015).面阵电荷耦合器件错位成像的建模与仿真.红外与激光工程(09),2767-2773. |
| MLA | 李亚鹏,et al."面阵电荷耦合器件错位成像的建模与仿真".红外与激光工程 .09(2015):2767-2773. |
入库方式： OAI收割
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