平差理论在大口径光学元件轮廓检测中的应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 杨飞; 刘国军; 安其昌 |
| 刊名 | 红外与激光工程
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| 出版日期 | 2015-10-25 |
| 期号 | 10页码:2965-2969 |
| 关键词 | 轮廓测量 大口径光学元件 激光跟踪仪 测量平差理论 结构函数 |
| 中文摘要 | 为了更好地进行大口径光学元件轮廓测量,以激光跟踪仪作为测量的工具,引入测量平差理论对测量数据进行处理,以提高光学元件毛坯制作、铣磨加工阶段的轮廓测量精度。首先,对拟合误差的公式进行了推导,得出影响拟合精度的因素;之后,对于大口径元件轮廓测量的具体检测模型提出了提高拟合精度的方法;最后,对于实际的2 m量级口径的Si C主镜进行了实际的测量与拟合,并从F数、拟合残差、结构函数等角度分析了平差结果。所提出的方法对于大口径元件的加工检测具有较好的指导意义。 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/54037]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨飞,刘国军,安其昌. 平差理论在大口径光学元件轮廓检测中的应用[J]. 红外与激光工程,2015(10):2965-2969. |
| APA | 杨飞,刘国军,&安其昌.(2015).平差理论在大口径光学元件轮廓检测中的应用.红外与激光工程(10),2965-2969. |
| MLA | 杨飞,et al."平差理论在大口径光学元件轮廓检测中的应用".红外与激光工程 .10(2015):2965-2969. |
入库方式： OAI收割
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