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正交柱面镜像散位移测量方法的研究

文献类型:期刊论文

作者韩庆; 王健; 李灿; 刘英; 孙强
刊名光学学报
出版日期2015-07-10
期号07页码:204-209
关键词测量 正交柱面镜 像散原理 矩阵光学
中文摘要为了实现物体位移测量的高精度,无损伤和简单化,对柱面镜像散效应进行了研究,利用正交柱面镜像散效应实现物体的位移测量。根据高斯光线追迹的矩阵方法,建立正交柱面镜的矩阵光线传播模型,并利用Zemax进行仿真验证;给出了正交柱面镜像散位移测量系统的矩阵传播模型,并具体分析了系统的量程和分辨率;进行实验验证,在5.6 mm量程范围内,实现了精度为200 nm的移位测量。该方法为位移测量提供了一种新的非接触、高精度的光学测量方式。
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/54282]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
韩庆,王健,李灿,等. 正交柱面镜像散位移测量方法的研究[J]. 光学学报,2015(07):204-209.
APA 韩庆,王健,李灿,刘英,&孙强.(2015).正交柱面镜像散位移测量方法的研究.光学学报(07),204-209.
MLA 韩庆,et al."正交柱面镜像散位移测量方法的研究".光学学报 .07(2015):204-209.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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