Freeform metrology using swept-source optical coherence tomography with custom pupil-relay precision scanning configuration
文献类型：会议论文
| 作者 | Yao, Jianing; Xu, Di; Zhao, Nan; Rolland, Jannick P. |
| 出版日期 | 2015 |
| 会议名称 | Optifab 2015 |
| 会议日期 | 2015 - October 15 |
| 会议地点 | NY |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/55584]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出_会议论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Yao, Jianing,Xu, Di,Zhao, Nan,et al. Freeform metrology using swept-source optical coherence tomography with custom pupil-relay precision scanning configuration[C]. 见:Optifab 2015. NY. 2015 - October 15. |
入库方式： OAI收割
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。