外加电场测试台架及薄膜测试平台
文献类型：专利
| 作者 | 李晓龙; 顾月良; 何庆; 黎忠; 周兴泰; 徐洪杰 |
| 发表日期 | 2011-12-28 |
| 专利国别 | 中华人民共和国 |
| 专利号 | CN202471623 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 权利人 | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 中文摘要 | 本实用新型公开了一种外加电场测试台架及薄膜测试平台，包括一底座，所述底座设置在一旋转轴上方，底座上方中央设置一样品台；一对“T”形支架，设置在所述底座两端的端面上；一对能够在多个维度上进行位置调节的探针台，分别设置在所述“T”形支架上；一对探针夹具，包括探针插口，分别设置在所述探针台上；以及一对与所述探针夹具绝缘的金属探针，通过所述探针插口固定设置在所述探针夹具上。本实用新型结构合理，操作方便，可以在进行衍射研究的同时对样品进行转动调整，大大提高了薄膜材料的基础物质属性研究实验效率。 |
| 分类号 | G01N23/20;G01R31/00 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN201120559975 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/25270]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
| 作者单位 | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李晓龙,顾月良,何庆,等. 外加电场测试台架及薄膜测试平台. CN202471623. 2011-12-28. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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