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基于线扫描相位差分成像的光学元件激光损伤快速检测技术

文献类型：期刊论文

作者范星诺; 姜有恩; 李学春
刊名中国激光
出版日期2013
卷号40期号:9页码:908005
其他题名Technology for Rapid Detection of Laser-Induced Damage on Optical Components Using Line-Scan Phase Differential Imaging
通讯作者范星诺, 中国科学院上海光学精密机械研究所, 高功率激光物理国家实验室, 上海 201800, 中国. ; 姜有恩, 中国科学院上海光学精密机械研究所, 高功率激光物理国家实验室, 上海 201800, 中国. ; 李学春, 中国科学院上海光学精密机械研究所, 高功率激光物理国家实验室, 上海 201800, 中国.
中文摘要将暗场照明应用到线扫描成像中，提出了一种用于光学元件激光损伤的检测技术。该技术基于相位差分原理，只对引起相位变化的激光损伤区域有响应，因此检测图像具有高对比度。分析了该技术的原理，并从实验上验证了该检测技术的特性。实验研究表明该技术能够获得高对比度和高分辨率的激光损伤图像，且具有快速检测大口径光学元件激光损伤的能力。
英文摘要A technology for detecting laser-induced damage on optics, using line-scan imaging and dark-field image principle, is proposed. According to the phase differential theory, this technology only responds to laser-induced damages which cause the phase change, and thus the detected images have high contrast. In order to understand the features of the technology, the principle of the technology is analyzed, and the characteristics of the detection technology are verified by experiment. Experimental studies reveal that the technology can acquire high contrast and high-resolution laser-induced damage image, and that it has the potential to quickly detect the laser-induced damage of large aperture optical components.
收录类别EI
语种中文
版本出版稿
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/14910]  
专题上海光学精密机械研究所_高功率激光物理国家实验室
作者单位1.Fan Xingnuo, National Laboratory on High Power Laser and Physics，Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics，Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, China.
2.Jang Youen, National Laboratory on High Power Laser and Physics，Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics，Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, China.
3.Li Xuechun, National Laboratory on High Power Laser and Physics，Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics，Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, China.
推荐引用方式
GB/T 7714		 范星诺,姜有恩,李学春. 基于线扫描相位差分成像的光学元件激光损伤快速检测技术[J]. 中国激光,2013,40(9):908005.
APA 范星诺,姜有恩,&李学春.(2013).基于线扫描相位差分成像的光学元件激光损伤快速检测技术.中国激光,40(9),908005.
MLA 范星诺,et al."基于线扫描相位差分成像的光学元件激光损伤快速检测技术".中国激光 40.9(2013):908005.

入库方式： OAI收割

来源：上海光学精密机械研究所

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