软X射线激光偏折法测量激光等离子体电子密度分布
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王琛; 顾援; 傅思祖; 吴江; 王伟; 孙玉琴; 董佳钦; 孙今人; 王瑞荣; 倪元龙 |
| 刊名 | 物理学报
 |
| 出版日期 | 2002 |
| 卷号 | 51期号:4页码:847 |
| 其他题名 | Measurement of electron density distribution in a laser plasma with soft X-ray laser deflectometry |
| 通讯作者 | Wang, C (reprint author), Shanghai Inst Laser Plasma, Natl Lab High Power Laser & Phys, Shanghai 201800, Peoples R China. |
| 中文摘要 | 利用脉宽约为50ps的类镍－银13.9nm软X射线激光作为探针，探测由脉宽80ps的驱动激光打C_8H_8靶产生的等离子体在1ns后的电子密度分布信息，获得了清晰的莫尔条纹图像，对结果的处理，给出了峰值电子密度为1.1 * 10~(21) cm~(-3)，并对在靶面附近莫尔条纹的消失现象作了初步解释。 |
| 英文摘要 | A soft X-ray laser deflectometer was used to measure electron density distribution of a laser-plasma produced with a 80ps duration drive laser pulse (lambda = 1.053mum) irradiating a C8H8 plasma target. Using a soft X-ray laser beam (lambda = 13.9nm) of 50ps pulse duration, a moire deflectogram was created about 1ns after the end of drive laser pulse. Analysis of moire deflectogram gave a peak density of 1.1 x 10(21)cm(-3). A preliminary explanation was made on the disappearance of the moire stripes near the target surface. |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 中文 |
| WOS记录号 | WOS:000174952500027 |
| 版本 | 出版稿 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/17726]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_高功率激光物理国家实验室 |
| 作者单位 | 1.王琛, 上海激光等离子体研究所, 高功率激光物理国家实验室, 上海 201800, 中国. 2.顾援, 上海激光等离子体研究所, 高功率激光物理国家实验室, 上海 201800, 中国. 3.傅思祖, 上海激光等离子体研究所, 高功率激光物理国家实验室, 上海 201800, 中国. 4.吴江, 上海激光等离子体研究所, 高功率激光物理国家实验室, 上海 201800, 中国. 5.王伟, 上海激光等离子体研究所, 高功率激光物理国家实验室, 上海 201800, 中国. 6.孙玉琴, 上海激光等离子体研究所, 高 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王琛,顾援,傅思祖,等. 软X射线激光偏折法测量激光等离子体电子密度分布[J]. 物理学报,2002,51(4):847. |
| APA | 王琛.,顾援.,傅思祖.,吴江.,王伟.,...&王世绩.(2002).软X射线激光偏折法测量激光等离子体电子密度分布.物理学报,51(4),847. |
| MLA | 王琛,et al."软X射线激光偏折法测量激光等离子体电子密度分布".物理学报 51.4(2002):847. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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