深亚微米光存储测试技术研究
文献类型：学位论文
| 作者 | 徐文东 |
| 学位类别 | 博士 |
| 答辩日期 | 2002 |
| 授予单位 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 导师 | 干福熹 |
| 关键词 | CD-R盘基预刻槽，光衍射级，物镜产生的小光斑，近场光学光纤探针，近场光存储，固体浸润透镜，深亚微米尺度 |
| 其他题名 | Research of testing technology for optical storage on deep sub-micron scale |
| 中文摘要 | 随着光盘技术以及其它新的高密度光存储技术的研究和发展，与之相应的测试技术己要求能够分辨深亚微米尺度的细节。本论文介绍了我在光存储测试技术研究方面的三个主要内容:CD-R盘基预刻槽深度和宽度均匀性测试和方法和系统，光学读取头物镜产生的激光光斑的光强分布测试的方法和系统，以及激光透过固体浸没透镜(SIL)聚焦的高密度光存储介质静态读写性能测试的方法及系统。 |
| 英文摘要 | With the research and development of optical disk technology and other new technologies for high-density optical storage, resolution in deep sub-micron scale is required for their corresponding testing. In this paper, I will introduce my work in three main sections in the study of the testing technology for high-density optical storage: the method and system for measuring the fluctuation of pre-groove width and depth on the CD-R substrate; the method and system for measuring the light intensity distribution of laser spot produced by objective in the optical pick-up head; and, the method and system for testing the static reading and writing performance of high-density optical storage medium by focusing the laser beam through an immersion solid lens (SIL). |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/15832]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_学位论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐文东. 深亚微米光存储测试技术研究[D]. 中国科学院上海光学精密机械研究所. 2002. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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