GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉
文献类型:专利
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作者 | 殷绍唐 ; 张德明 ; 张庆礼 ; 孙敦陆 ; 张季 ; 王迪 ; 刘文鹏 ; 孙贵花 |
发表日期 | 2013 |
专利国别 | 中国 |
专利号 | 公开号 CN 203720111U |
专利类型 | 实用新型 |
权利人 | 中国科学院 |
申请日期 | 2013 |
专利申请号 | 201320828702.X |
源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/21311] ![]() |
专题 | 合肥物质科学研究院_中科院安徽光学精密机械研究所 |
作者单位 | 中国科学院合肥物质科学研究院 地址 230031 安徽省合肥市蜀山湖路 350 号 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 殷绍唐 ; 张德明 ; 张庆礼 ; 孙敦陆 ; 张季 ; 王迪 ; 刘文鹏 ; 孙贵花. GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉, GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉, GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉, GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉, GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉, GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉, GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉, GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉, GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉, GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉, GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉, GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉, GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉, GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉, GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉, GIXRD技术原位实时测量晶体生长边界层微观结构的微型晶体生长炉. 公开号 CN 203720111U. 2013-01-01. |
入库方式: OAI收割
来源:合肥物质科学研究院
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