同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉
文献类型:专利
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作者 | 殷绍唐 ; 张德明 ; 孙彧 ; 张庆礼 ; 孙敦陆 |
发表日期 | 2015 |
专利国别 | 中国 |
专利号 | 公开号 CN 104534879A |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院 |
申请日期 | 2015 |
专利申请号 | 201510017769.9 |
源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/21314] ![]() |
专题 | 合肥物质科学研究院_中科院安徽光学精密机械研究所 |
作者单位 | 中国科学院合肥物质科学研究院 地址 230031 安徽省合肥市蜀山湖路 350 号 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 殷绍唐 ; 张德明 ; 孙彧 ; 张庆礼 ; 孙敦陆. 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉, 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉, 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉, 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉, 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉, 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉, 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉, 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉, 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉, 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉, 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉, 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉, 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉, 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉, 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉, 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉. 公开号 CN 104534879A. 2015-01-01. |
入库方式: OAI收割
来源:合肥物质科学研究院
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