漏率检测方法与内部水汽含量的分析研究
文献类型：会议论文
| 出版日期 | 2004 |
| 会议名称 | 2004第四届电子产品防护技术研讨会 |
| 关键词 | 内部水汽 氦质谱检漏 加压法 充入法 检漏仪本底 氦气吸附 |
| 中文摘要 | 分析研究和测试数据表明,密封元器件符合标准但偏大的漏率常是造成贮存后内部水汽含量超标的重要原因,加压法氦质谱检漏的灵敏度较低,捡漏仪本底和氦气吸附均是影响检漏灵敏度的因素.提出了由于水汽凝露可阻塞漏孔的漏率的概念,并初步给出了相应的等效标准漏率L和测量漏率R1的数值.作者主张采取减少和消除氦气吸附漏率的措施,在工艺控制中采用充入法、在检验中采用加压法进行氦质谱细检漏.建议进行有关密封元器件内部水 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://202.127.2.71:8080/handle/181331/10914]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_全文传递文献库_qwcd 会议论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | . 漏率检测方法与内部水汽含量的分析研究[C]. 见:2004第四届电子产品防护技术研讨会. |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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