积分时间和积分电容对紫外焦平面性能的影响
文献类型：会议论文
| 出版日期 | 2004 |
| 会议名称 | 中国光学学会2004年学术大会 |
| 关键词 | 紫外焦平面 读出电路 积分时间 积分电容 |
| 中文摘要 | 用金属有机化学汽相沉积生长的p-i-nGaN材料制备了64元线列探测器并与读出电路实现了互连,采用PI-4000系列测试系统对焦平面器件进行了测试,分析了积分时间和积分电容对焦平面器件性能的影响。实验结果表明,焦平面的响应信号随积分时间的延长而增大;在相同积分时间下,信号与积分电容成反比关系;焦平面的读出噪声约为mV量级,而积分电容对读出噪声没有明显的影响。 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://202.127.2.71:8080/handle/181331/11050]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_全文传递文献库_qwcd 会议论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | . 积分时间和积分电容对紫外焦平面性能的影响[C]. 见:中国光学学会2004年学术大会. |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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