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肖特基势垒对CdS/CdTe薄膜电池J-V 暗性能的影响

文献类型:期刊论文

作者赵守仁 ; 黄志鹏 ; 孙雷 ; 孙朋超 ; 张传军 ; 邬云华 ; 曹鸿 ; 王善力 ; 褚君浩
刊名物理学报
出版日期2013-01-01
卷号62期号:16
关键词CdS/CdTe薄膜 伏安特性 肖特基势垒 roll-over
中文摘要采用数学模拟方法分析了不同背接触势垒高度(φb)对于CdS/CdTe薄膜电池的J-V(电流密度-电压)方程的影响,得出了势垒高度与roll-over的变化对应关系.采用相应Cu/Mo背电极的CdS/CdTe薄膜电池在220—300K的变温J-V曲线的数值分析与理论分析相对照,分析了背势垒对于J-V曲线拟合参数的影响.修正了φb与反向饱和电流(Jb0)关系式,理论与实验符合得非常好.
学科主题红外基础研究
公开日期2014-11-10
源URL[http://202.127.1.142/handle/181331/7688]  
专题上海技术物理研究所_上海技物所
推荐引用方式
GB/T 7714
赵守仁,黄志鹏,孙雷,等. 肖特基势垒对CdS/CdTe薄膜电池J-V 暗性能的影响[J]. 物理学报,2013,62(16).
APA 赵守仁.,黄志鹏.,孙雷.,孙朋超.,张传军.,...&褚君浩.(2013).肖特基势垒对CdS/CdTe薄膜电池J-V 暗性能的影响.物理学报,62(16).
MLA 赵守仁,et al."肖特基势垒对CdS/CdTe薄膜电池J-V 暗性能的影响".物理学报 62.16(2013).

入库方式: OAI收割

来源:上海技术物理研究所

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