HgCdTe薄膜材料组分分布对器件响应光谱的影响
文献类型：期刊论文
| 作者 | 崔宝双 ; 魏彦锋 ; 孙权志 ; 杨建荣 |
| 刊名 | 红外与毫米波学报
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| 出版日期 | 2013-06-15 |
| 卷号 | 32期号:3 |
| 关键词 | HgCdTe红外探测器 纵向组分分布 响应光谱 光传输模型 |
| 中文摘要 | 研究了HgCdTe液相外延薄膜的纵向组分分布对探测器响应光谱的影响.提出了一种计算HgCdTe红外探测器响应光谱的模型,模型中综合考虑了薄膜的实际组分分布以及光在器件各层结构中的相干、非相干传输.计算结果表明,在探测器的光吸收区,HgCdTe液相外延薄膜的组分梯度及其产生的内建电场可以显著地提高器件的响应率.通过与实验数据进行比较,验证了模型的适用性。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2014-11-11 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/7774]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 崔宝双,魏彦锋,孙权志,等. HgCdTe薄膜材料组分分布对器件响应光谱的影响[J]. 红外与毫米波学报,2013,32(3). |
| APA | 崔宝双,魏彦锋,孙权志,&杨建荣.(2013).HgCdTe薄膜材料组分分布对器件响应光谱的影响.红外与毫米波学报,32(3). |
| MLA | 崔宝双,et al."HgCdTe薄膜材料组分分布对器件响应光谱的影响".红外与毫米波学报 32.3(2013). |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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