一种测量光学器件相位延迟角度的方法
文献类型：专利
| 作者 | 1王建宇2 吴金才 3何志平 4 贾建军 5 舒嵘 6 杨海马 7袁立银 |
| 发表日期 | 2014-01-01 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | 201210073614.3 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 上海技术物理研究所 |
| 是否PCT专利 | 否 |
| 公开日期 | 2015-01-06 |
| 申请日期 | 2012-01-01 |
| 语种 | 中文 |
| 专利证书号 | 1350118 |
| 专利申请号 | 201210073614.3 |
| 专利代理 | 上海新天专利代理有限公司 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/7845]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 1王建宇2 吴金才 3何志平 4 贾建军 5 舒嵘 6 杨海马 7袁立银. 一种测量光学器件相位延迟角度的方法. 201210073614.3. 2014-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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