快速检测II型红外超晶格界面质量的光谱方法和装置
文献类型：专利
| 发表日期 | 2013 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | 201310039046.X |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 上海技术物理研究所 |
| 公开日期 | 2015 |
| 专利代理 | 上海新天专利代理有限公司 |
| 源URL | [http://202.127.2.71:8080/handle/181331/10655]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | . 快速检测II型红外超晶格界面质量的光谱方法和装置. 201310039046.X. 2013-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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