Origin of a fourfold symmetric (0006) Bragg diffraction intensity in phi-scan mode on a 6H-SiC crystal
文献类型：期刊论文
| 作者 | Gan, G ; Song, YT ; Sun, W ; Guo, LW ; Chen, XL |
| 刊名 | JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS
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| 出版日期 | 2015 |
| 卷号 | 48期号:43 |
| 公开日期 | 2016-12-26 |
| 源URL | [http://ir.iphy.ac.cn/handle/311004/60974]  |
| 专题 | 物理研究所_物理所公开发表论文_物理所公开发表论文_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Gan, G,Song, YT,Sun, W,et al. Origin of a fourfold symmetric (0006) Bragg diffraction intensity in phi-scan mode on a 6H-SiC crystal[J]. JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS,2015,48(43). |
| APA | Gan, G,Song, YT,Sun, W,Guo, LW,&Chen, XL.(2015).Origin of a fourfold symmetric (0006) Bragg diffraction intensity in phi-scan mode on a 6H-SiC crystal.JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS,48(43). |
| MLA | Gan, G,et al."Origin of a fourfold symmetric (0006) Bragg diffraction intensity in phi-scan mode on a 6H-SiC crystal".JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS 48.43(2015). |
入库方式： OAI收割
来源：物理研究所
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