BEAM DIAGNOSTIC SYSTEM FOR PAL-XFEL
文献类型：会议论文
| 作者 | J.Y.Huang; Y.S.Bae; M.-H.Chun; Y.J.Han; S.-H.Jeong; H.-S.Kang; D.T.Kim; S.H.Kim; S.-C.Kim; I.S.Ko |
| 出版日期 | 2005 |
| 会议名称 | Proceedings of the 27th International Free Electron Laser Conference |
| 会议日期 | 2005 |
| 会议地点 | California |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/255833]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_FEL |
| 作者单位 | PAL, Pohang, Kyungbuk |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | J.Y.Huang,Y.S.Bae,M.-H.Chun,et al. BEAM DIAGNOSTIC SYSTEM FOR PAL-XFEL[C]. 见:Proceedings of the 27th International Free Electron Laser Conference. California. 2005. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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