Slice Emittance Measurement using RF Deflecting Cavity at PAL-XFEL ITF
文献类型：会议论文
| 作者 | J.Lee |
| 出版日期 | 2014 |
| 会议名称 | Proceedings of the 36th International Free Electron Laser Conference |
| 会议日期 | 2014 |
| 会议地点 | Switzerland |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/256906]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_FEL |
| 作者单位 | POSTECH, Pohang, Kyungbuk, Republic of Korea |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | J.Lee. Slice Emittance Measurement using RF Deflecting Cavity at PAL-XFEL ITF[C]. 见:Proceedings of the 36th International Free Electron Laser Conference. Switzerland. 2014. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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