Life prediction of 808nm high power semiconductor laser by accelerated life test of constant current stress
文献类型：期刊论文
| 作者 | Yao Nan ; Li Wei† ; Zhao Yihao ; Zhong Li ; Liu Suping ; Ma Xiaoyu |
| 刊名 | spie proceedings
 |
| 出版日期 | 2016 |
| 卷号 | 9671页码:96710h-3 |
| 学科主题 | 半导体器件 |
| 收录类别 | SCI |
| 公开日期 | 2017-03-02 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27672]  |
| 专题 | 半导体研究所_光电子器件国家工程中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Yao Nan,Li Wei†,Zhao Yihao,et al. Life prediction of 808nm high power semiconductor laser by accelerated life test of constant current stress[J]. spie proceedings,2016,9671:96710h-3. |
| APA | Yao Nan,Li Wei†,Zhao Yihao,Zhong Li,Liu Suping,&Ma Xiaoyu.(2016).Life prediction of 808nm high power semiconductor laser by accelerated life test of constant current stress.spie proceedings,9671,96710h-3. |
| MLA | Yao Nan,et al."Life prediction of 808nm high power semiconductor laser by accelerated life test of constant current stress".spie proceedings 9671(2016):96710h-3. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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