Reflectance difference spectroscopy microscope for circular defects on InN films
文献类型：期刊论文
| 作者 | Wei Huang ; Yu Liu ; Laipan Zhu ; Xiantong Zheng Yuan Li ; Qing Wu ; Yixin Wang ; Xinqiang Wang ; Yonghai Chen |
| 刊名 | optics express
 |
| 出版日期 | 2016 |
| 卷号 | 24期号:13页码:15059-15070 |
| 学科主题 | 半导体材料 |
| 收录类别 | SCI |
| 公开日期 | 2017-03-10 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27682]  |
| 专题 | 半导体研究所_中科院半导体材料科学重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Wei Huang,Yu Liu,Laipan Zhu,et al. Reflectance difference spectroscopy microscope for circular defects on InN films[J]. optics express,2016,24(13):15059-15070. |
| APA | Wei Huang.,Yu Liu.,Laipan Zhu.,Xiantong Zheng Yuan Li.,Qing Wu.,...&Yonghai Chen.(2016).Reflectance difference spectroscopy microscope for circular defects on InN films.optics express,24(13),15059-15070. |
| MLA | Wei Huang,et al."Reflectance difference spectroscopy microscope for circular defects on InN films".optics express 24.13(2016):15059-15070. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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