Subset geometric phase analysis method for deformation evaluation of HRTEM images
文献类型：期刊论文
| 作者 | Hongye Zhang ; Zhanwei Liu ; Huihui Wen ; Huimin Xie ; Chao Liu |
| 刊名 | ultramicroscopy
 |
| 出版日期 | 2016 |
| 卷号 | 171页码:34-42 |
| 学科主题 | 半导体材料 |
| 收录类别 | SCI |
| 公开日期 | 2017-03-10 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27757]  |
| 专题 | 半导体研究所_中科院半导体材料科学重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Hongye Zhang,Zhanwei Liu,Huihui Wen,et al. Subset geometric phase analysis method for deformation evaluation of HRTEM images[J]. ultramicroscopy,2016,171:34-42. |
| APA | Hongye Zhang,Zhanwei Liu,Huihui Wen,Huimin Xie,&Chao Liu.(2016).Subset geometric phase analysis method for deformation evaluation of HRTEM images.ultramicroscopy,171,34-42. |
| MLA | Hongye Zhang,et al."Subset geometric phase analysis method for deformation evaluation of HRTEM images".ultramicroscopy 171(2016):34-42. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。