Thermally induced native defect transform in annealed GaSb
文献类型：期刊论文
| 作者 | Jie Su ; Tong Liu ; Jing-Ming Liu ; Jun Yang ; Yong-Biao Bai ; Gui-Ying Shen ; Zhi-Yuan Dong ; Fang-Fang Wang ; You-Wen Zhao |
| 刊名 | chinese physics b
 |
| 出版日期 | 2016 |
| 卷号 | 25期号:7页码:077801 |
| 学科主题 | 半导体材料 |
| 收录类别 | SCI |
| 公开日期 | 2017-03-10 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27762]  |
| 专题 | 半导体研究所_中科院半导体材料科学重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Jie Su,Tong Liu,Jing-Ming Liu,et al. Thermally induced native defect transform in annealed GaSb[J]. chinese physics b,2016,25(7):077801. |
| APA | Jie Su.,Tong Liu.,Jing-Ming Liu.,Jun Yang.,Yong-Biao Bai.,...&You-Wen Zhao.(2016).Thermally induced native defect transform in annealed GaSb.chinese physics b,25(7),077801. |
| MLA | Jie Su,et al."Thermally induced native defect transform in annealed GaSb".chinese physics b 25.7(2016):077801. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。