X-ray Microtomography at Shanghai Synchrotron Radiation Facility
文献类型:会议论文
作者 | Chen, RC; Xie, HL; Deng, BA; Du, GH; Ren, YQ; Wang, YD; Zhou, GZ; Tan, H; Yang, YM; Xu, L |
出版日期 | 2016 |
会议名称 | Conference on Developments in X-Ray Tomography X |
会议日期 | AUG 29-31, 2016 |
会议地点 | San Diego, CA |
关键词 | Synchrotron Radiation X-ray imaging tomography quantitative imaging |
通讯作者 | Xiao, TQ (reprint author), Chinese Acad Sci, Shanghai Inst Appl Phys, Shanghai 201800, Peoples R China. |
收录类别 | SCI |
会议主办者 | SPIE |
语种 | 英语 |
ISSN号 | 0277-786X |
ISBN号 | 978-1-5106-0325-7; 978-1-5106-0326-4 |
源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/26397] |
专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Chen, RC,Xie, HL,Deng, BA,et al. X-ray Microtomography at Shanghai Synchrotron Radiation Facility[C]. 见:Conference on Developments in X-Ray Tomography X. San Diego, CA. AUG 29-31, 2016. |
入库方式: OAI收割
来源:上海应用物理研究所
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