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一种一维干涉式微波辐射计图像反演方法

文献类型:专利

作者武林; 刘浩; 金梦彤; 张成; 吴季
发表日期2016-07-20
专利国别中国
专利类型发明专利
中文摘要本发明涉及一种一维干涉式微波辐射计图像反演方法,包括:测量一维干涉式微波辐射计中各单元天线的二维天线方向图,并对天线单元阵列进行稀疏排布,形成满足成像要求的基线覆盖;将二维天线方向图转换为一维天线方向图,并利用转换得到的一维天线方向图计算得到一维干涉式微波辐射计的测量系统响应矩阵;利用一维干涉式微波辐射计的测量系统响应矩阵和系统测量并校准后的可见度函数,进行图像反演得到高精度亮温图像。
分类号G01J5/60(2006.01)I
语种中文
专利申请号CN201610577183.2
源URL[http://ir.nssc.ac.cn/handle/122/5719]  
专题国家空间科学中心_微波遥感部
推荐引用方式
GB/T 7714
武林,刘浩,金梦彤,等. 一种一维干涉式微波辐射计图像反演方法. 2016-07-20.

入库方式: OAI收割

来源:国家空间科学中心

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