AlN材料外延技术及其应用研究
文献类型:学位论文
作者 | 杜泽杰 |
学位类别 | 硕士 |
答辩日期 | 2017-05-25 |
授予单位 | 中国科学院大学 |
授予地点 | 北京 |
导师 | 段瑞飞 |
关键词 | 金属有机化合物气相沉积(MOCVD) 深紫外LED 氮化铝(AlN) 成核层 |
学位专业 | 材料工程 |
中文摘要 | 深紫外LED应用广泛,但是价格高昂,这主要是由于目前主流深紫外外延片使用的生产装备多为小型MOCVD。但是大型MOCVD在蓝宝石衬底上外延生长AlN时,除了面临晶格失配和热失配的困难外,由于反应炉较大,炉内热场和流场难以控制,而且预反应强烈,因此目前还很难使用大型MOCVD生长出高质量的AlN外延层。本文为了寻找可以实现大产量工业MOCVD设备生产高性能深紫外LED的工艺,探索了不同缓冲层或缓冲层组合上外延生长高温AlN,不同厚度溅射成核层上生长高温AlN,以及在溅射成核层生长深紫外LED。取得的主要研究成果如下:
1. 使用大型工业MOCVD设备,在不同缓冲层及缓冲层组合上外延生长1200℃的高温AlN。通过比较模板表面粗糙度和样品的摇摆曲线半高宽,结果表明,如果生长在蓝宝石衬底上的缓冲层质量较好,然后再用大型工业MOCVD在缓冲层上生长高温AlN外延层,有可能生长出高质量的AlN材料。基本可以确定,缓冲层(成核层)对生长环境非常敏感,另外高温AlN的晶体质量对缓冲层(成核层)质量非常敏感,值得庆幸的是高温AlN的晶体质量对生长环境的要求较为宽松,这为通过提高缓冲层(成核层)质量实现大型工业MOCVD外延高质量的AlN材料提供了可行性保障。
2. 使用大型工业MOCVD,在原位成核层上生长一层1250℃的高温AlN外延层,螺位错密度和刃位错密度分别高达 2.54×109 cm-2 和 2.88× 1010 cm-2,结果表明,采用两步法外延,难以使大型工业MOCVD设备生长出高质量的AlN外延层。当在25nm、50nm和100nm厚的溅射成核层上,使用大型工业MOCVD,生长一层900nm厚的1250℃的高温AlN外延层, AlN模板的螺位错密度分别为9.77 × 106、 1.65 × 107和 1.11 × 108 cm-2 ,刃位错密度分别为1.46 × 1010、8.91 × 109和 6.70 × 109 cm-2。溅射成核层的厚度增加,螺位错随之增加,但是刃位错密度却是降低的,两种位错密度之和随着溅射成核层厚度增加而降低。本实验结果表明,相比原位形核层,溅射成核层可以有效地降低预反应等带来的危害,提供了高质量的成核层。采用溅射成核层可以实现使用大型工业MOCVD设备生长出质量相对较好的AlN外延层。
3. 使用大型工业MOCVD设备在50nm厚溅射成核层上生长深紫外LED外延片,成功地制备出可以商业化应用的282nm深紫外LED芯片。该深紫外LED芯片,在注入电流为20mA时,光输出功率达到1.65mW,对应的外量子效率为1.87%。在注入电流为60mA时,达到饱和光输出功率4.31mW。此外,还在50nm厚溅射成核层上,使用大型工业MOCVD制备出波长为274nm的UVC-LED。在注入电流为20mA时,单颗UVC-LED的光输出功率达到0.51mW,对应的外量子效率为0.56%。综上,本文所述方法,非常有潜力成为实现深紫外LED低成本大规模量产的重要方法。 |
学科主题 | 半导体材料 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2017-05-27 |
源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/28134] ![]() |
专题 | 半导体研究所_中科院半导体照明研发中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 杜泽杰. AlN材料外延技术及其应用研究[D]. 北京. 中国科学院大学. 2017. |
入库方式: OAI收割
来源:半导体研究所
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