Fractional overage of defects in self-assembled thiol monolayers on gold
文献类型：期刊论文
| 作者 | Diao P(刁鹏) ; Min Guo ; Dianlu Jiang ; Zhenbin Jia ; Cui XL(崔晓莉) ; Gu DP(顾登平) ; Tong RT(童汝亭) ; Zhong B(钟炳) |
| 刊名 | Journal of Electroanalytical Chemistry
 |
| 出版日期 | 2000 |
| 卷号 | 480期号:1-2页码:59-63 |
| 合作状况 | 国内 |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2011-02-22 ; 2011-05-17 |
| 源URL | [http://ir.sxicc.ac.cn/handle/0/761]  |
| 专题 | 山西煤炭化学研究所_煤转化国家重点实验室_煤转化国家重点实验室_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Diao P,Min Guo,Dianlu Jiang,et al. Fractional overage of defects in self-assembled thiol monolayers on gold[J]. Journal of Electroanalytical Chemistry,2000,480(1-2):59-63. |
| APA | Diao P.,Min Guo.,Dianlu Jiang.,Zhenbin Jia.,Cui XL.,...&Zhong B.(2000).Fractional overage of defects in self-assembled thiol monolayers on gold.Journal of Electroanalytical Chemistry,480(1-2),59-63. |
| MLA | Diao P,et al."Fractional overage of defects in self-assembled thiol monolayers on gold".Journal of Electroanalytical Chemistry 480.1-2(2000):59-63. |
入库方式： OAI收割
来源：山西煤炭化学研究所
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