Mo原子溅射能量对Mo/Si薄膜微结构的影响
文献类型:期刊论文
作者 | 秦俊岭 ; 易葵 ; 邵建达 |
刊名 | 功能材料与器件学报
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出版日期 | 2006 |
卷号 | 12期号:2页码:81 |
关键词 | Mo/Si MoSi2 溅射能量 |
ISSN号 | 1007-4252 |
其他题名 | Influence of sputtering energy of Mo atoms on microstructure of Mo/Si thin film |
中文摘要 | 用磁控溅射法制备了Mo/Si薄膜,用AFM和XRD分别研究了Mo原子的溅射能量不同时,Mo/Si薄膜表面形貌和晶相的变化。通过比较发现,随着Mo原子溅射能量的增大,Mo/Si薄膜表面粗糙度增加,Mo和Si的特征X射线衍射峰也越来越强,并且Mo膜层和Si膜层之间生成了Mo-Si2。Mo原子的溅射能量是诱导非晶Si结晶和MoSi2生成的主要原因。 |
学科主题 | 光学薄膜 |
分类号 | O484.4 |
收录类别 | ei |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2009-09-22 |
源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/4214] ![]() |
专题 | 上海光学精密机械研究所_光学薄膜技术研究与发展中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 秦俊岭,易葵,邵建达. Mo原子溅射能量对Mo/Si薄膜微结构的影响[J]. 功能材料与器件学报,2006,12(2):81, 85. |
APA | 秦俊岭,易葵,&邵建达.(2006).Mo原子溅射能量对Mo/Si薄膜微结构的影响.功能材料与器件学报,12(2),81. |
MLA | 秦俊岭,et al."Mo原子溅射能量对Mo/Si薄膜微结构的影响".功能材料与器件学报 12.2(2006):81. |
入库方式: OAI收割
来源:上海光学精密机械研究所
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