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Mo原子溅射能量对Mo/Si薄膜微结构的影响

文献类型:期刊论文

作者秦俊岭 ; 易葵 ; 邵建达
刊名功能材料与器件学报
出版日期2006
卷号12期号:2页码:81
关键词Mo/Si MoSi2 溅射能量
ISSN号1007-4252
其他题名Influence of sputtering energy of Mo atoms on microstructure of Mo/Si thin film
中文摘要用磁控溅射法制备了Mo/Si薄膜,用AFM和XRD分别研究了Mo原子的溅射能量不同时,Mo/Si薄膜表面形貌和晶相的变化。通过比较发现,随着Mo原子溅射能量的增大,Mo/Si薄膜表面粗糙度增加,Mo和Si的特征X射线衍射峰也越来越强,并且Mo膜层和Si膜层之间生成了Mo-Si2。Mo原子的溅射能量是诱导非晶Si结晶和MoSi2生成的主要原因。
学科主题光学薄膜
分类号O484.4
收录类别ei
语种中文
公开日期2009-09-22
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/4214]  
专题上海光学精密机械研究所_光学薄膜技术研究与发展中心
推荐引用方式
GB/T 7714
秦俊岭,易葵,邵建达. Mo原子溅射能量对Mo/Si薄膜微结构的影响[J]. 功能材料与器件学报,2006,12(2):81, 85.
APA 秦俊岭,易葵,&邵建达.(2006).Mo原子溅射能量对Mo/Si薄膜微结构的影响.功能材料与器件学报,12(2),81.
MLA 秦俊岭,et al."Mo原子溅射能量对Mo/Si薄膜微结构的影响".功能材料与器件学报 12.2(2006):81.

入库方式: OAI收割

来源:上海光学精密机械研究所

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