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表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实验

文献类型:期刊论文

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作者范树海 ; 贺洪波 ; 范正修 ; 邵建达 ; 赵元安
刊名物理学报
出版日期2005
卷号54期号:12页码:5774
关键词吸收测量 absorption measurement 表面热透镜 surface thermal lens 光热形变 photothermal deformation 薄膜 thin film
ISSN号1000-3290
其他题名Theory and experiment of surface thermal lens technique used in absorption measurement of thin films
中文摘要由薄膜表面光热形变简化理论和表面热透镜衍射理论导出表面热透镜信号表达式,从理论上证明了表面热透镜信号和薄膜吸收率的线性关系.应用表面热透镜技术研制了薄膜吸收测量仪,测量结果表明其吸收率测量灵敏度和精度均达10-6量级.; The expression of surface thermal lens (STL) signal is deduced from photothermal deformation theory of thin film surface and STL diffraction theory. The linearity of STL signal to absorption of thin film can be seen from the expression. A measurement apparatus for thin film absorption based on STL technique is constructed. The measuring results prove that the sensitivity and accuracy of this instrument reach 10(-6) magnitude.
学科主题光学薄膜
分类号O484.41;TH740.6
收录类别ei
语种中文
公开日期2009-09-22
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/4286]  
专题上海光学精密机械研究所_光学薄膜技术研究与发展中心
推荐引用方式
GB/T 7714
范树海,贺洪波,范正修,等. 表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实验, Theory and experiment of surface thermal lens technique used in absorption measurement of thin films[J]. 物理学报,2005,54(12):5774, 5777.
APA 范树海,贺洪波,范正修,邵建达,&赵元安.(2005).表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实验.物理学报,54(12),5774.
MLA 范树海,et al."表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实验".物理学报 54.12(2005):5774.

入库方式: OAI收割

来源:上海光学精密机械研究所

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