薄膜内杂质分布的分形特征
文献类型：期刊论文
| 作者 | 夏志林 ; 范正修 ; 邵建达 |
| 刊名 | 中国激光
 |
| 出版日期 | 2006 |
| 卷号 | 33期号:1页码:111 |
| 关键词 | 薄膜 损伤阈值 分形分布 杂质 |
| ISSN号 | 0258-7025 |
| 其他题名 | Fractal distribution character of inclusions in the films |
| 中文摘要 | 薄膜中总会存在一些杂质或者缺陷，杂质和缺陷密度的有限性导致了薄膜破坏的概率性。提出了不同尺寸杂质和缺陷分布的分形特征，分析了薄膜破坏概率与辐照激光功率密度的关系，计算结果与实验结果吻合得很好。得到了一种确定薄膜中最具危害性杂质的热学特性及分布密度的方法。同时提出了杂质的敏感尺寸范围（SSR）的概念，由此得到材料激光损伤阈值的新的确定表达式，该表达式反映的损伤阈值与激光脉宽的关系更加符合实验结果。 |
| 学科主题 | 光学薄膜 |
| 分类号 | O484 |
| 收录类别 | ei |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2009-09-22 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/4288]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_光学薄膜技术研究与发展中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 夏志林,范正修,邵建达. 薄膜内杂质分布的分形特征[J]. 中国激光,2006,33(1):111, 115. |
| APA | 夏志林,范正修,&邵建达.(2006).薄膜内杂质分布的分形特征.中国激光,33(1),111. |
| MLA | 夏志林,et al."薄膜内杂质分布的分形特征".中国激光 33.1(2006):111. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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