负离子元素杂质破坏模型
文献类型：期刊论文
| 作者 | 吴师岗 ; 邵建达 ; 范正修 |
| 刊名 | 物理学报
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| 出版日期 | 2006 |
| 卷号 | 55期号:4页码:1987 |
| 关键词 | 负离子元素杂质 缺陷 吸收 损伤阈值 negative-ion element impurities defects absorption |
| ISSN号 | 1000-3290 |
| 其他题名 | Negative-ion element impurities breakdown model |
| 中文摘要 | 探讨了HfO2薄膜中负离子元素杂质破坏模型，并得出薄膜中的杂质主要来源于镀膜材料。用电子束蒸发方法沉积两种不同Cl元素古量的HfO2薄膜，测定薄膜弱吸收和损伤阈值来验证负离子元素破坏模型。结果表明，随着Cl元素含量的增加薄膜的弱吸收增加损伤阈值减小。这主要是因为负离子元素在蒸发过程中形成挥发性的气源中心而产生缺陷，缺陷在激光辐照过程中又形成吸收中心．因此负离子元素的存在将加速薄膜的破坏。; Negative-ion element impurities breakdown model of HfO2 optical thin film is reported. We believe the main impurity element in thin film comes from the coating material. The weak absorption and laser induced dam age threshold (LIDT) of HfO2 thin film are measured to testify the negative-ion element impurities breakdown model. These results indicate that the LIDT would decrease and the absorption of the films would increase with the increase of the content of negative-ion element. The main reason is the negative-ion elements become the center of volatile gas source and form defects, which in turn become the center of absorption during laser irradiation. So negative-ion elements are harmful impurities, their existence will speed up the damage of the thin film. |
| 学科主题 | 光学薄膜 |
| 分类号 | O484 |
| 收录类别 | ei |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2009-09-22 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/4308]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_光学薄膜技术研究与发展中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴师岗,邵建达,范正修. 负离子元素杂质破坏模型[J]. 物理学报,2006,55(4):1987, 1990. |
| APA | 吴师岗,邵建达,&范正修.(2006).负离子元素杂质破坏模型.物理学报,55(4),1987. |
| MLA | 吴师岗,et al."负离子元素杂质破坏模型".物理学报 55.4(2006):1987. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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